正温度系数热敏电阻(PTCR)特性参数快速测试仪 |
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引用本文: | 舒庆,孟陆强.正温度系数热敏电阻(PTCR)特性参数快速测试仪[J].上海微电子技术和应用,1998(1):13-16. |
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作者姓名: | 舒庆 孟陆强 |
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摘 要: | 本文介绍了一种快速测量正温度系数热敏电阻(PTCR)的重要参数(居里温度Tc和电阻温度系数αt)的测量方法,并根据这种方法设计了PTCR特性参数Tc,αt快速测试仪,该仪器的使用改变了传统测试方法时间长,工作量大的状况。通过测量PTCR在室温和两个特征温度下的电阻值,该仪器能很快计算并显示出Tc和αt的结果,大大提高了测试效率,该仪器以8031单片机系统为核心,简单实用,使用方便,成本低,文中介绍
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关 键 词: | 正温度系数 热敏电阻 居里温度 电阻温度系数 |
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