数字IC可测性设计和自动测试生成技术 |
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引用本文: | 刘明远,邵锦荣.数字IC可测性设计和自动测试生成技术[J].微电子学,1998,28(5):362-364. |
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作者姓名: | 刘明远 邵锦荣 |
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作者单位: | 中国华晶电子集团公司中央研究所 |
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摘 要: | 描述了一种自动局部扫描可测性设计方法,该方法在电路内部提供附加逻辑,把时序元件串成一条扫描通路,辅以适当的控制信号,使时序元件和组合元件分离开,从而达到可测试的目的,介绍了一种改进的PODEM测试生成算法和一种基于模拟的测试生成方法,该方法能较好处理时序电路的测试生成问题。
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关 键 词: | 数字集成电路 可测性设计 测试生成 故障模拟 |
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