首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

体硅CMOS射频集成电路中高Q值在片集成电感的实现
引用本文:张志勇,海潮和.体硅CMOS射频集成电路中高Q值在片集成电感的实现[J].微电子学,2003,33(1):15-18.
作者姓名:张志勇  海潮和
作者单位:中国科学院,微电子中心,北京,100029
摘    要:制作高Q值在片集成电感一直是体硅CMOS射频集成电路工艺中的一大难点,文章讨论和分析了体硅RF IC工艺中提高在片集成电感Q值的几种常用方法,这些方法都与CMOS工艺兼容。

关 键 词:在片集成电感  射频集成电路  品质因素  钢互连  低k介质  体硅CMOS
文章编号:1004-3365(2003)01-0015-04
修稿时间:2002年3月11日

High Q-Factor On-chip Spiral Inductors for Bulk Silicon CMOS RF IC's
Abstract:
Keywords:On-chip inductors  RF IC  Quality factor  Copper interconnections  Low-k dielectric
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号