| 基于分组网络结构NoC的BIST串扰测试方法 |
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| 引用本文： | 何世超,蔡觉平,郝跃.基于分组网络结构NoC的BIST串扰测试方法[J].微电子学,2007,37(6):852-856. |
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| 作者姓名： | 何世超 蔡觉平 郝跃 |
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| 作者单位： | 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室;西安电子科技大学微电子学院,西安 710071 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划)VLSI重大专项;国家自然科学基金 |
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| 摘 要： | 针对大规模NoC芯片设计中BIST测试时间长和消耗面积大的问题,提出一种测试NoC内switch间互连线串扰的BIST方法。对于互连线工作在1 GHz以下的大规模NoC,电容耦合是影响串扰的主要因素。通过并行测试结构,同时对几条受害线进行测试,有效减小了测试时间和电路面积。从理论角度对所提方法的测试时间和功率损耗进行了分析,以3×3 mesh结构的NoC为例,验证了所提方案和理论分析的正确性。
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| 关 键 词： | 内建自测试 串扰 测试向量 |
| 文章编号： | 1004-3365（2007）06-0852-05 |
| 收稿时间： | 2007-03-21 |
| 修稿时间： | 2007-05-29 |
BIST for NoC Crosstalk Based on Packet Network Structure |
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| HE Shi-chao,CAI Jue-ping,HAO Yue.BIST for NoC Crosstalk Based on Packet Network Structure[J].Microelectronics,2007,37(6):852-856. |
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| Authors: | HE Shi-chao CAI Jue-ping HAO Yue |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | NoC |
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