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SiGe/Si异质结双极晶体管研究
引用本文:李开成,刘道广,张静,易强.SiGe/Si异质结双极晶体管研究[J].微电子学,2000,30(3):144-146.
作者姓名:李开成  刘道广  张静  易强
作者单位:1. 模拟集成电路国家重点实验室,重庆,400060
2. 信息产业部电子第二十四研究所,重庆,400060
摘    要:介绍了一咱SiGe/Si分子束外延异质结双极晶体管(HBT)的研制。该器件采用3μm工艺制作,测量得其电流放大系数β为50,截止效率fr为5.1GHz,表明器件的直流特性和交流特性良好。器件的音片成品率在90%以上。

关 键 词:分子束外延  异质结双极晶体管  锗-硅合金

Development of a SiGe/Si Heterojunction Bipolar Transistor
LI Kai-cheng,LIU Dao-guang,ZHANG Jing,YI Qiang.Development of a SiGe/Si Heterojunction Bipolar Transistor[J].Microelectronics,2000,30(3):144-146.
Authors:LI Kai-cheng  LIU Dao-guang  ZHANG Jing  YI Qiang
Abstract:
Keywords:Molecular  beam  epitaxy  Semiconductor  device  SiGe  alloy  Heterojunction  bipolar  transistor
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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