| 用于数模混合电路中ADC测试的IP核设计 |
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| 引用本文： | 谈恩民,贾亚平.用于数模混合电路中ADC测试的IP核设计[J].微电子学,2016,46(6):849-853. |
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| 作者姓名： | 谈恩民 贾亚平 |
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| 作者单位： | 桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院, 广西 桂林 541004,桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院, 广西 桂林 541004 |
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| 摘 要： | 针对片上系统(SoC)中模数转换器(ADC)的测试,提出了一种测试IP核结构。IP核主要由模拟信号源、换位器和标准数模转换器(DAC)等组成,能够根据设计者不同的需求选择不同的测试方案。针对ADC的低位呆滞故障以及跳变故障的检测,提出了一种新的检测方法,解决了ADC低位故障检测困难的问题,该方法还可以用于对电压稳定度以及噪声的测量。通过对IP核数字电路部分的设计与仿真,证明IP核是可行的。
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| 关 键 词： | IP核 模数转换器 片上系统 混合电路测试 噪声测量 |
An IP Core Design for ADC Test in Mixed-Signal Integrated Circuits |
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| TAN Enmin and JIA Yaping.An IP Core Design for ADC Test in Mixed-Signal Integrated Circuits[J].Microelectronics,2016,46(6):849-853. |
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| Authors: | TAN Enmin and JIA Yaping |
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| Affiliation: | School of Electronic Engineering and Automation, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, Guangxi 541004, P. R. China and School of Electronic Engineering and Automation, Guilin University of Electronic Technology, Guilin, Guangxi 541004, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IP core ADC SoC Mixed circuit test Noise measurement |
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