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纳米压印技术专利分析
引用本文:杨莺歌,卞志昕,吴春莹,肖沪卫.纳米压印技术专利分析[J].微纳电子技术,2007,44(3):150-154.
作者姓名:杨莺歌  卞志昕  吴春莹  肖沪卫
作者单位:上海科学技术情报研究所,上海,200031
摘    要:在信息存储、生物传感器、亚波长光学器件等领域,纳米压印技术已成为价格相对较低、性能可靠、具有量产能力的制备技术。通过对纳米压印技术专利文献的定量和定性分析,从技术层面和竞争层面上把握纳米压印的技术发展脉络和竞争格局,研究了纳米压印技术领域的发展概况、技术群聚和各国的技术情况,试图显示出世界纳米压印技术的现状、特点和发展趋势。

关 键 词:纳米压印  专利分析  Derwent专利数据库
文章编号:1671-4776(2007)03-0150-05
修稿时间:2006-10-11

Patent Analysis on Nanoimprint Technique
YANG Ying-ge,BIAN Zhi-xin,WU Chun-ying,XIAO Hu-wei.Patent Analysis on Nanoimprint Technique[J].Micronanoelectronic Technology,2007,44(3):150-154.
Authors:YANG Ying-ge  BIAN Zhi-xin  WU Chun-ying  XIAO Hu-wei
Abstract:Nanoimprint technique has been applied in information storage,biosensor and subwavelength optical device for low cost,reliability and high-throughput. Qualitative and quantitative patent analyses were both discussed to study the development,patent clusters and competition situation of nanoimprint.
Keywords:nanoimprint  patent analysis  Derwent world patent index
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