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高频声表面波器件用压电晶圆清洗技术研究
引用本文:刘善群,汤旭东,喻卫兵,陶玲,伍平,刘晓莉,陆川,赵雪梅.高频声表面波器件用压电晶圆清洗技术研究[J].压电与声光,2013,35(3):318-319.
作者姓名:刘善群  汤旭东  喻卫兵  陶玲  伍平  刘晓莉  陆川  赵雪梅
作者单位:中国电子科技集团公司第26研究所,重庆 400060
摘    要:论述了低浓度碱性过氧化氢清洗液兆声清洗钽酸锂、铌酸锂和水晶等压电晶圆的工艺技术。在保持压电晶圆特性的前提下,该技术可有效去除晶圆表面小于0.2 μm的附着颗粒,使其表面洁净度满足亚微米线宽高频声表面波(SAW)器件生产要求,同时降低了化学品、去离子水的消耗量及对环境的污染。

关 键 词:声表面波工艺  兆声清洗  压电晶圆

Study on the Cleaning Technique of Piezoelectric Wafer for SAW Device with High Frequency
LIU Shanqun,TANG Xudong,YU Wenbing,TAO Lin,WU Ping,LIU Xiaoli,LU Chuan and ZHAO Xuemei.Study on the Cleaning Technique of Piezoelectric Wafer for SAW Device with High Frequency[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2013,35(3):318-319.
Authors:LIU Shanqun  TANG Xudong  YU Wenbing  TAO Lin  WU Ping  LIU Xiaoli  LU Chuan and ZHAO Xuemei
Affiliation:26th Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Chongqing 400060,China
Abstract:
Keywords:SAW technique  megasonic cleaning  piezoelectric wafer
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