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大气状态下AFM阳极氧化加工Si的研究
引用本文:宋晓辉,李艳宁,匡登峰,刘庆纲,胡小唐.大气状态下AFM阳极氧化加工Si的研究[J].压电与声光,2006,28(2):209-211.
作者姓名:宋晓辉  李艳宁  匡登峰  刘庆纲  胡小唐
作者单位:天津大学,精密仪器与光电子工程学院,精密测试计量技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
基金项目:教育部天津大学南开大学科技合作基金资助项目
摘    要:Si纳米氧化线是构筑基于Si的纳米器件的基础。通过AFM针尖诱导阳极氧化加工的n型Si(100)的实验得到凸出的n型Si(100)氧化物高度和偏置电压成线性关系,与针尖扫描速度成负对数关系,并在前人的基础上深化了AFM针尖诱导氧化加工的机理和理论模型,得到了合适的加工条件为偏压8 V和扫描速度1μm/s。

关 键 词:AFM阳极氧化  Si氧化线  偏置电压  扫描速度
文章编号:1004-2474(2006)02-0209-03
收稿时间:2004-09-17
修稿时间:2004年9月17日

Study of AFM Anodic Oxidation of Si in the Air
SONG Xiao-hui,LI Yan-ning,KUANG Deng-feng,LIU Qing-gang,HU Xiao-tang.Study of AFM Anodic Oxidation of Si in the Air[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2006,28(2):209-211.
Authors:SONG Xiao-hui  LI Yan-ning  KUANG Deng-feng  LIU Qing-gang  HU Xiao-tang
Abstract:
Keywords:AFM anodic oxidation  Si oxidation lines  biased voltage  scanning speed
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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