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计算机图像处理技术在晶粒度测量中的应用
引用本文:李志敏,吴建军,陈杰,李育才,石锐. 计算机图像处理技术在晶粒度测量中的应用[J]. 压电与声光, 2002, 24(2): 168-170
作者姓名:李志敏  吴建军  陈杰  李育才  石锐
作者单位:重庆大学光电工程学院,重庆,400044
摘    要:讨论了采用计算机图像处理和分析技术进行晶粒度定量测量的方法,介绍了对晶粒度进行定量测量的设计思想以及具体测试过程,为工厂的现有生产和新产品的试制提供准确、快速的理化定量分析手段,有效地保证产品质量,使理化检验水平提高到一个新的水平。

关 键 词:计算机图像处理技术 晶粒度测量 金属材料
文章编号:1004-2474(2002)02-0168-03
修稿时间:2001-07-02

Crystal Particle Grade Measurement Through Computer Image Process
LI Zhi min,WU Jian jun,CHEN Jie,Li Yu cai SHI Rui. Crystal Particle Grade Measurement Through Computer Image Process[J]. Piezoelectrics & Acoustooptics, 2002, 24(2): 168-170
Authors:LI Zhi min  WU Jian jun  CHEN Jie  Li Yu cai SHI Rui
Abstract:
Keywords:crystal edge  crystal particle grade  quantitative metallurgy  image process
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