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单层SiO2和ZrO2薄膜激光辐照损伤的对比
引用本文:章春来,郭袁俊,吕海兵,袁晓东,蒋晓东,祖小涛.单层SiO2和ZrO2薄膜激光辐照损伤的对比[J].压电与声光,2011,33(1):115-118,122.
作者姓名:章春来  郭袁俊  吕海兵  袁晓东  蒋晓东  祖小涛
作者单位:1. 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900;电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054
2. 电子科技大学,物理电子学院,四川,成都,610054
3. 中国工程物理研究院,激光聚变研究中心,四川,绵阳,621900
基金项目:国家“八六三”基金资助项目(2008AA8040508); 中央高校基本科研业务费专项基金资助项目(ZYGX2009X007)
摘    要:分别采用物理气相沉积和溶胶-凝胶技术在K9基片上镀制了4块光学厚度相近的SiO2和ZrO2单层膜.分别采用椭偏仪、透射式光热透镜和原子力显微镜对两类薄膜的孔隙率、热吸收和微观表面形貌进行了表征;利用Nd:YAG激光器测试了样品的激光损伤阈值(LIDT;1064 nm/8.1 ns),并用光学显微镜观察了两类薄膜的损伤形...

关 键 词:SiO2/ZrO2薄膜  孔隙率  热吸收  激光损伤阈值  损伤形貌

Contrast Study of Laser-induced Damage of Monolayer SiO2 and ZrO2 Films
ZHANG Chunlai,GUO Yuanju,LV Haibing,YUAN Xiaodong,JIANG Xiaodong,ZU Xiaotao.Contrast Study of Laser-induced Damage of Monolayer SiO2 and ZrO2 Films[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2011,33(1):115-118,122.
Authors:ZHANG Chunlai  GUO Yuanju  LV Haibing  YUAN Xiaodong  JIANG Xiaodong  ZU Xiaotao
Affiliation:ZHANG Chunlai1,2,GUO Yuanjun2,LV Haibing1,YUAN Xiaodong1,JIANG Xiaodong1,ZU Xiaotao2(1.Research Center of Laser Fusion,China Academy of Engineering Physics,Mianyang 621900,China,2.School of Physical Electronics,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu 610054,China)
Abstract:
Keywords:SiO2/ZrO2 films  porous ratio  thermal absorption  LIDT  damage morphology  
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