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Mn掺杂BST薄膜的制备与表征
引用本文:鲍军波,任天令,刘建设,刘理天,李志坚,李兴教.Mn掺杂BST薄膜的制备与表征[J].压电与声光,2002,24(5):389-391,403.
作者姓名:鲍军波  任天令  刘建设  刘理天  李志坚  李兴教
作者单位:1. 清华大学,微电子所,北京,100084;华中科技大学,电子科学与技术系,武汉,430074
2. 清华大学,微电子所,北京,100084
3. 华中科技大学,电子科学与技术系,武汉,430074
基金项目:国家“九七三”(G19990 3 3 10 5 ),清华大学“九八五”基金和“新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室开放课题”资助项目
摘    要:采用醋酸水溶液体系溶胶-凝胶法制备了未掺杂和掺Mn(II)钛酸锶钡(BST)薄膜。用这种方法。可在BST体系中容易地加入任何浓度的金属离子,并可在室温下长期保存,根据X-射线衍射图(XRD)和表面形貌,薄膜的晶化温度取为650-750℃,根据掺Mn BST的Mn2p3/2X-射线光电子能谱(XPS)图中Mn2p3/2的峰位置,显示出薄膜中Mn的价态与加入Mn(II)离子价态相同,根据结合能的峰移,可以得到掺Mn BST的费密能级降低0.7eV.I-V特性和介电特性测试表明,掺Mn(II)BST的漏电流明显降低,相对的介电常数增加,损耗角正切降低0.01,根据漏电性质,介电常数和损耗的关系,2%(摩尔分数)的Mn掺杂的BST薄膜适合于低频小信号(2V以下,约500kHz)应用,而高浓度的Mn掺杂适合于大信号较高频率(1MHz以上)应用。

关 键 词:Mn掺杂  BST薄膜  溶胶-凝胶法  X-射线光电子能谱  I-V特征  介电性质
文章编号:1004-2474(2002)05-0389-03

Preparation and Characterization on the Mn-Doped BST Thin Film
BAO Jun bo ,REN Tiian ling ,LIU Jian she ,LIU Li tian ,LI Zhi jian ,LI Xing jiao.Preparation and Characterization on the Mn-Doped BST Thin Film[J].Piezoelectrics & Acoustooptics,2002,24(5):389-391,403.
Authors:BAO Jun bo    REN Tiian ling  LIU Jian she  LIU Li tian  LI Zhi jian  LI Xing jiao
Affiliation:BAO Jun bo 1,2,REN Tiian ling 1,LIU Jian she 1,LIU Li tian 1,LI Zhi jian 1,LI Xing jiao 2
Abstract:
Keywords:
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