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在兰宝石上射频溅射ZnO单晶薄膜的结构及SAW特性
引用本文:T.Mitsuyu,S.Ono,K.Wasa,余承杰.在兰宝石上射频溅射ZnO单晶薄膜的结构及SAW特性[J].压电与声光,1981(1).
作者姓名:T.Mitsuyu  S.Ono  K.Wasa  余承杰
作者单位:松下电器产业公司,松下电器产业公司,松下电器产业公司 日,日,日
摘    要:用射频溅射法已在兰宝石的(O001)和(0112)面上外延生长了ZnO单晶薄膜.研究了这些薄膜的晶体结构和电特性.对兰宝石(0112)面上沿ZnO薄膜C轴传播的SAW测量了包括相速度,耦合系数,传播损耗及延迟温度系数等声表面波(SAW)特性.通过中心频率为1050兆赫的滤波器证明了这种结构对于高频SAW器件的可用性.

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