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| 基于虚拟仪器技术的LED/LD P-I特性测试系统 | |
| 引用本文： | 狄红卫.基于虚拟仪器技术的LED/LD P-I特性测试系统[J].半导体光电,2003,24(5):367-370. |
| 作者姓名： | 狄红卫 |
| 作者单位： | 暨南大学,物理系,广东,广州,510632 |
| 摘 要： | 介绍了一种基于虚拟仪器技术的LED/LDP I特性测试系统。系统采用虚拟仪器开发软件LabVIEW,提高了数据采集、处理能力及系统的拓展升级能力,达到了简化系统结构、降低系统成本的目的。实际测试证明本系统使用方便、效率高、结果可靠。 |
| 关 键 词： | 发光二极管 半导体激光器 虚拟仪器 PI特性 |
| 文章编号： | 1001-5868(2003)05-0367-04 |
| 修稿时间： | 2003年4月8日 |
P-I Characteristic Detection System of LED/LD Based on Virtual Instrument |
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| Abstract: | |
| Keywords: | light emitting diode semiconductor laser virtual instrument P-I characteristic |
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