| Liq/ITO结构表面与界面的AFM和XPS研究 |
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| 引用本文： | 李建丰,孙硕,欧谷平,张福甲.Liq/ITO结构表面与界面的AFM和XPS研究[J].半导体光电,2008,29(3):390-394. |
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| 作者姓名： | 李建丰 孙硕 欧谷平 张福甲 |
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| 作者单位： | 兰州大学 物理系,甘肃 兰州 730000;兰州交通大学 数理与软件工程学院,甘肃 兰州 730070;兰州大学 物理系,甘肃 兰州,730000 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金
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甘肃省自然科学基金 |
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| 摘 要： | 采用真空蒸发沉积的方法,在覆盖有ITO膜的玻璃基片上沉积一层Liq.利用原子力显微镜(AFM)对制备的Liq/ITO样品表面进行扫描,发现Liq粉末表现为岛状形态,其表面极不平整,存在大量裂缝和空隙,有许多针孔.用X射线光电子能谱(XPS)研究了Liq/ITO紧密接触的表面和界面电子状态.对样品In3d和Sn3d的电子状态分析也证实了ITO表面沉积Liq膜存在裂缝和针孔,这些裂缝和针孔吸附了空气中大量的气体分子;对C1s谱的分析发现,ITO膜表面存在一定的C污染;对N1s谱分析可知,界面处N原子与O、In和Sn原子有相互作用,这将会影响Liq的发光颜色.
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| 关 键 词： | 原子力显微镜 X射线光电子能谱 Liq/ITO 表面和界面电子态 有机发光器件 |
| 文章编号： | 1001-5868(2008)03-0390-05 |
| 修稿时间： | 2007年8月15日 |
Surface and Interface Investigation of Liq/ITO by Using AFM and XPS |
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| LI Jian-feng,SUN Shuo,OU Gu-ping,ZHANG Fu-jia.Surface and Interface Investigation of Liq/ITO by Using AFM and XPS[J].Semiconductor Optoelectronics,2008,29(3):390-394. |
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| Authors: | LI Jian-feng SUN Shuo OU Gu-ping ZHANG Fu-jia |
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