| 硅PIN光电探测器阵列的串扰分析 |
| |
| 引用本文： | 王巍,武逶,白晨旭,冯其,冯世娟,王振,曹阳.硅PIN光电探测器阵列的串扰分析[J].半导体光电,2013,34(1):12-15. |
| |
| 作者姓名： | 王巍 武逶 白晨旭 冯其 冯世娟 王振 曹阳 |
| |
| 作者单位： | 重庆邮电大学光电工程学院,重庆,400065 |
| |
| 基金项目： | 重庆市电子产业发展基金项目 |
| |
| 摘 要： | 在利用高密度线性阵列探测器成像时,探测阵列单元间的串扰将直接影响器件的成像质量.文章对厚度为100μm的背照式PIN光电探测器线性阵列的电串扰特性进行了分析,通过Silvaco TCAD器件仿真软件对阵列的暗电流和光电流进行了仿真,分析了像元间的电串扰特性,同时对比分析了保护环结构对器件的暗电流和电串扰特性的影响.仿真结果表明,保护环结构器件的暗电流和电串扰性能均优于无保护环的结构,在有保护环时PIN器件的串扰是无保护环结构的1/5.
|
| 关 键 词： | PIN探测器阵列 串扰 保护环 |
| 收稿时间： | 2012/7/24 0:00:00 |
Analysis on Electrical Crosstalk of Silicon PIN Photodiode Array |
| |
| WANG Wei,WU Wei,BAI Chenxu,FENG Qi,FENG Shijuan,WANG Zhen and CAO Yang.Analysis on Electrical Crosstalk of Silicon PIN Photodiode Array[J].Semiconductor Optoelectronics,2013,34(1):12-15. |
| |
| Authors: | WANG Wei WU Wei BAI Chenxu FENG Qi FENG Shijuan WANG Zhen and CAO Yang |
| |
| Affiliation: | College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN;College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN;College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN;College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN;College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN;College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN;College of Electronics Engineering,Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,CHN |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《半导体光电》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《半导体光电》下载全文 |
|
