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微波组件中多层陶瓷电容器装联工艺研究
引用本文:陈以钢,戴立强,绍登云,蓝博.微波组件中多层陶瓷电容器装联工艺研究[J].电子工艺技术,2015(1):42-44.
作者姓名:陈以钢  戴立强  绍登云  蓝博
作者单位:南京电子器件研究所,江苏南京,210016
摘    要:多层陶瓷电容器(MLCC)在微波模块或组件电子装联焊接过程中,经常出现裂纹、断裂故障。通过模拟MLCC多种焊接方式,制备样品,进行DPA分析,发现目前常用的手工焊接方式会使MLCC产生不同程度的裂纹缺陷。这些裂纹在后续的环境试验中将不断扩大,从而导致产品失效。分析了MLCC裂纹产生的原因和机理,给出了MLCC无损伤的焊接方式。

关 键 词:微波组件  MLCC  DPA  无损伤焊接

Assembly Research of Multilayer Ceramic Capacitors in Microwave Modules
CHEN Yi-gang,DAI Li-qiang,SHAO Deng-yun,LAN Bo.Assembly Research of Multilayer Ceramic Capacitors in Microwave Modules[J].Electronics Process Technology,2015(1):42-44.
Authors:CHEN Yi-gang  DAI Li-qiang  SHAO Deng-yun  LAN Bo
Affiliation:CHEN Yi-gang;DAI Li-qiang;SHAO Deng-yun;LAN Bo;Nanjing Electronic Devices Institute;
Abstract:
Keywords:Microwave modules  MLCC  DPA  Nondestructive soldering
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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