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| VLSI集成电路参数成品率及优化研究进展 | |
| 引用本文： | 郝跃,荆明娥,马佩军.VLSI集成电路参数成品率及优化研究进展[J].电子学报,2004,31(B12):1971-1974. |
| 作者姓名： | 郝跃 荆明娥 马佩军 |
| 摘 要： | VLSI的参数成品率是与制造成本和电路特性紧密相关的一个重要因素，随着集成电路(IC)进入超深亚微米发展阶段，芯片工作速度不断增加，集成度和复杂度提高，而工艺容差减小的速度跟不上这种变化，因此参数成品率的研究越来越重要．本文系统地讨论了参数成品率的模型和设计技术研究进展，分析不同技术的特点和局限性．最后提出了超深亚微米(VDSM)阶段参数成品率设计和成品率增强面临的主要问题及发展方向． |
| 关 键 词： | VLSI设计方法学 参数成品率 最优化设计 |
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