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绝缘体上硅功率半导体单芯片集成技术
引用本文:张龙,刘斯扬,孙伟锋,马杰,盘成务,何乃龙,张森,苏巍.绝缘体上硅功率半导体单芯片集成技术[J].电子学报,2023(2):514-526.
作者姓名:张龙  刘斯扬  孙伟锋  马杰  盘成务  何乃龙  张森  苏巍
作者单位:1. 东南大学国家ASIC工程研究中心;2. 华润上华科技有限公司
基金项目:国家自然科学基金(No.62274032,No.62174029);
摘    要:利用单芯片集成技术制造的智能功率芯片具有体积小、寄生小、损耗低等方面的优势,其技术难度远高于传统的多芯片、单封装形式的智能功率模块.本文首先介绍了单片智能功率芯片的架构与技术需求;然后,探讨了绝缘体上硅功率半导体单芯片集成的工艺流程和器件类型;接着,总结了高压横向IGBT器件技术、续流二极管器件技术、LDMOS器件技术的特征和效果;此外,还讨论了单片智能功率芯片的相关可靠性问题,包括高压互连线效应和低温雪崩不稳定.本课题组在功率半导体集成型器件的电流能力、关断速度、短路承受能力、反向恢复峰值电流、安全工作区、高压互连线屏蔽、低温可靠性等关键特性优化或可靠性提升方面进行了自主创新,构建了基于绝缘体上硅的功率半导体单芯片集成技术,并成功研制了单片智能功率芯片.

关 键 词:功率半导体  绝缘体上硅  单片集成  功率集成电路  功率器件
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