4J42合金电子封装外壳的激光焊接裂纹控制 |
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引用本文: | 朱小军,刘刚.4J42合金电子封装外壳的激光焊接裂纹控制[J].混合微电子技术,2010,21(2):79-81. |
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作者姓名: | 朱小军 刘刚 |
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作者单位: | 中国电子科技集团公司第14研究所,南京210039 |
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摘 要: | 4J42合金电子封装外壳进行Nd:YAG脉冲激光焊接密封时,有时会产生焊接裂纹。研究了激光输出功率和脉冲波形、壳体镀涂等工艺因素对焊接裂纹产生的影响。试验结果表明,激光输出功率和脉冲波形、壳体镀涂工艺因素对焊接裂纹的产生有重要影响。通过降低激光输出功率,采用组合脉冲波形和电镀的方法来控制焊接裂纹的产生,4J42合金封装外壳的密封成品率得到有效提高。
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关 键 词: | 4J42合金 封装 Nd:YAG脉冲激光焊 焊接裂纹 |
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