关于系统保证寿命的试验研究 |
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引用本文: | 毛燧立.关于系统保证寿命的试验研究[J].电子产品可靠性与环境试验,1998(4):10-14,18. |
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作者姓名: | 毛燧立 |
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作者单位: | 银河集团!荆州,434007 |
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摘 要: | 以四组高温电负载恒定应力对半导体收音机机芯作加速寿命试验。对寿命数据分别作图估计和最好线性不变估计。在每母加速应力下,样本寿命分布均为双参数指数分布,均匀在保证寿命。平均寿命的加速规律符合Arrhenius方程。保证寿命与加速应力之间存在负指数关系。推算样本在正常应力下的保证寿命为5481小时。
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关 键 词: | 加速寿命试验 指数分布 保证寿命 半导体器件 |
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