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关于系统保证寿命的试验研究
引用本文:毛燧立.关于系统保证寿命的试验研究[J].电子产品可靠性与环境试验,1998(4):10-14,18.
作者姓名:毛燧立
作者单位:银河集团!荆州,434007
摘    要:以四组高温电负载恒定应力对半导体收音机机芯作加速寿命试验。对寿命数据分别作图估计和最好线性不变估计。在每母加速应力下,样本寿命分布均为双参数指数分布,均匀在保证寿命。平均寿命的加速规律符合Arrhenius方程。保证寿命与加速应力之间存在负指数关系。推算样本在正常应力下的保证寿命为5481小时。

关 键 词:加速寿命试验  指数分布  保证寿命  半导体器件
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