| 电子产品寿命评估关键技术的研究 |
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| 引用本文： | 陈华平,李辉,张颖,鹿文军,温志英.电子产品寿命评估关键技术的研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2013,31(2). |
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| 作者姓名： | 陈华平 李辉 张颖 鹿文军 温志英 |
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| 作者单位： | 深圳出入境检验检疫局,广东深圳,510600 |
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| 摘 要： | 发达经济国家陆续出台针对电子电气产品使用寿命的法规、条例和标准,这些技术壁垒极大地影响了我国电子产品的出口.对寿命评估方法的现状、寿命评估的数学模型以及加速测试的方法进行了详细的分析,并介绍了测试后续预测方法的研究现状.
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| 关 键 词： | 寿命评估 加速测试 神经网络 灰色理论 |
Research on Key Point of Lifetime Assessment of Electronic Equipment |
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| CHEN Hua-ping
,
LI Hui
,
ZHANG Ying
,
LU Wen-jun
,
WEN Zhi-yin.Research on Key Point of Lifetime Assessment of Electronic Equipment[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2013,31(2). |
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| Authors: | CHEN Hua-ping LI Hui ZHANG Ying LU Wen-jun WEN Zhi-yin |
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