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温度步进应力加速寿命试验研究
引用本文:李健,汪金华,陆陪永.温度步进应力加速寿命试验研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2007,25(1):1-4.
作者姓名:李健  汪金华  陆陪永
作者单位:中国电子科技集团公司第三十八研究所,安徽,合肥,230031
摘    要:提出了一种温度步进威力加速寿命试验的方法,并分别基于阿伦尼斯模型、基本GM(1,1)模型、残差修正GM(1,1)模型对温度步进应力条件下特征寿命的点估计进行了讨论,最后用3种不同的方法对给出的实例进行了求解,说明了该方法在工程应用上的可行性和有效性。

关 键 词:步进应力加速寿命试验  阿伦尼斯模型  基本GM(1  1)模型  残差修正GM(1  1)模型  特征寿命
文章编号:1672-5468(2007)01-0001-04
修稿时间:2006年6月20日

Research of Temperature Stepped Stress Accelerated Life Testing
LI Jian,WANG Jin-hua,LU Pei-yong.Research of Temperature Stepped Stress Accelerated Life Testing[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2007,25(1):1-4.
Authors:LI Jian  WANG Jin-hua  LU Pei-yong
Abstract:A stepped stress accelerated life testing method is proposed. The point estimation of lifetime under stepped stress accelerated conditions was discussed based on Arrhenius relationship, GM(1,1) model,and residual GM(1,1) model. Finally,an example is given based on these models to illustrate the feasibility and effectiveness of the proposed method.
Keywords:stepped stress accelerated life testing  Arrhenius relationship  GM(1  1)model  residual GM(1  1)model  lifetime
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