| 电子设备可靠性增长试验方法及应用研究 |
| |
| 引用本文： | 朱永.电子设备可靠性增长试验方法及应用研究[J].电子产品可靠性与环境试验,2015(3). |
| |
| 作者姓名： | 朱永 |
| |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所,安徽 合肥,230000 |
| |
| 基金项目： | 国家科技支撑计划项目“机场场面监视雷达系统” |
| |
| 摘 要： | 可靠性增长试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段，对于可靠性要求高、产品子样少或价格昂贵的产品的可靠性增长和评价具有良好的实施效果。针对目前电子设备可靠性增长试验中的薄弱环节，对可靠性增长试验的关键技术进行了研究，阐述了电子设备如何制定可靠性增长试验的方案及程序，介绍了电子设备可靠性增长试验的制定原则和试验方法，并针对某型雷达可靠性增长试验给出设计和应用实例。
|
| 关 键 词： | 电子设备 可靠性增长 试验研究 |
Research on the Reliability Growth Test Method of Electronic Equipment and its Application |
| |
| ZHU Yong.Research on the Reliability Growth Test Method of Electronic Equipment and its Application[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2015(3). |
| |
| Authors: | ZHU Yong |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | electronic equipment reliability growth test research |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
