| ATE功能测试码生成方法 |
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| 引用本文： | 尤坤,王慧.ATE功能测试码生成方法[J].通信技术,2007,40(10):62-64. |
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| 作者姓名： | 尤坤 王慧 |
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| 作者单位： | 成都三零嘉微电子有限公司,四川,成都,610041 |
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| 摘 要： | 文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法。
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| 关 键 词： | 芯片测试 功能测试ATE ATE功能测试码 端口真值表 |
| 文章编号： | 1002-0802(2007)10-0062-03 |
| 修稿时间： | 2007年4月10日 |
A Way to Generate Function_Test_Code of ATE |
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| YOU Kun,WANG Hui.A Way to Generate Function_Test_Code of ATE[J].Communications Technology,2007,40(10):62-64. |
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| Authors: | YOU Kun WANG Hui |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | chip_test function_test ATE ATE_test_code Port_Truth_Table |
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