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| 大规模集成电路测试系统中的参考电平发生器 | |
| 引用本文： | 宋志平,吴金法.大规模集成电路测试系统中的参考电平发生器[J].光电子技术与信息,2004,17(4):73-75. |
| 作者姓名： | 宋志平 吴金法 |
| 作者单位： | 1. 安徽大学物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039 2. 中国农业银行安徽省分行,安徽,合肥,230061 |
| 摘 要： | 参考电平发生器是大规模集成电路测试系统中的重要模块之一．本文详细介绍了该模块的基本原理． |
| 关 键 词： | 大规模集成电路 测试系统 I／O通道 |
| 文章编号： | 1006-1231(2004)04-0073-03 |
| 修稿时间： | 2004年4月21日 |
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