| 连续太赫兹反射扫描成像分辨率测量实验研究 |
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| 引用本文： | 丁胜晖,李琦,李运达,王骐.连续太赫兹反射扫描成像分辨率测量实验研究[J].中国激光,2011(10). |
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| 作者姓名： | 丁胜晖 李琦 李运达 王骐 |
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| 作者单位： | 哈尔滨工业大学可调谐激光技术国家重点实验室; |
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| 摘 要： | 图像空间分辨率是太赫兹(THz)成像系统的重要技术参数。为了测量系统的分辨率特性,仿照ISO12233标准制作了星形分辨率测试卡。通过对测试卡进行成像,将成像结果进行简单的处理即可获得系统在不同方向上对不同空间频率方波的响应曲线,从而测得系统的调制传递函数。利用自制的分辨率测试卡在已建立的THz点扫描反射成像系统上进行了实验研究,对系统的分辨率特性进行了测量及分析。最终测得该系统的分辨率为1.273 lp/mm,对应的线宽为0.393 mm,测量结果与刀口法所得结果较为一致。分析表明,利用星形分辨率测试卡能够方便地对系统的分辨率特性进行测量分析,直观、准确地得出系统的分辨率上限。
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| 关 键 词： | 成像系统 太赫兹成像 分辨率 星形测试卡 |
Experimental Research on Resolution Measurement of a Continuous-Wave Terahertz Reflection-Mode Scanning System |
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| Ding Shenghui Li Qi Li Yunda Wang Qi.Experimental Research on Resolution Measurement of a Continuous-Wave Terahertz Reflection-Mode Scanning System[J].Chinese Journal of Lasers,2011(10). |
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| Authors: | Ding Shenghui Li Qi Li Yunda Wang Qi |
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| Affiliation: | Ding Shenghui Li Qi Li Yunda Wang Qi (National Key Laboratory of Tunable Laser Technology,Harbin Institute of Technology,Harbin,Heilongjiang 150081,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | imaging systems terahertz imaging resolution Siemens star |
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