| 基于FPGA的实验室常用芯片测试仪 |
| |
| 引用本文： | 巫新民,任艳频,秦俭,陈莉平,阎捷,任勇.基于FPGA的实验室常用芯片测试仪[J].半导体技术,2010,35(7):637-639. |
| |
| 作者姓名： | 巫新民 任艳频 秦俭 陈莉平 阎捷 任勇 |
| |
| 作者单位： | 清华大学信息科学技术学院,北京,100084;清华大学信息科学技术学院,北京,100084;清华大学信息科学技术学院,北京,100084;清华大学信息科学技术学院,北京,100084;清华大学信息科学技术学院,北京,100084;清华大学信息科学技术学院,北京,100084 |
| |
| 摘 要： | 针对电子技术实验无法进行多芯片同时测试的问题,提出了一种基于FPGA和上下位机联动配置技术的智能式多芯片测试方案.该方案实现了同一插槽测试不同芯片和集成电路测试台上多个芯片同时测试的功能.介绍了Verilog硬件描述语言编程下载和上位机控制方法与实现技术,有效解决了实验室常用芯片中不同类型芯片电源管脚上电的难题,利用FPGA器件实现了低功耗和系统可再编程升级,对于提高高校电子技术基础实验的水平和效率具有重要的实用价值.
|
| 关 键 词： | 多芯片测试 现场可编程门阵列 上位机 智能控制 |
Chip Tester Based on FPGA Commonly Used in Laboratory |
| |
| Wu Xinmin,Ren Yanpin,Qin Jian,Chen Liping,Yan Jie,Ren Yong.Chip Tester Based on FPGA Commonly Used in Laboratory[J].Semiconductor Technology,2010,35(7):637-639. |
| |
| Authors: | Wu Xinmin Ren Yanpin Qin Jian Chen Liping Yan Jie Ren Yong |
| |
| Affiliation: | Wu Xinmin,Ren Yanpin,Qin Jian,Chen Liping,Yan Jie,Ren Yong(School of Information Science , Technology,Tsinghua University,Beijing 100084,China) |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | multi-chip testing FPGA PC control intelligent control |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ |
|
