首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于峰值谱技术的GaN基微波功率器件陷阱表征方法
引用本文:张娇,张亚民,冯士维.基于峰值谱技术的GaN基微波功率器件陷阱表征方法[J].半导体技术,2022,47(4):274-280.
作者姓名:张娇  张亚民  冯士维
作者单位:北京工业大学微电子学院,北京 100124
基金项目:北京市教委科技计划一般项目;国家自然科学基金;北京市自然科学基金资助项目
摘    要:

关 键 词:GaN基HEMT  陷阱表征  瞬态电流法  时间常数谱  贝叶斯迭代

Trap Characterization Method for GaN-Based Microwave Power Devices Based on Peak Spectrum Technology
Zhang Jiao,Zhang Yamin,Feng Shiwei.Trap Characterization Method for GaN-Based Microwave Power Devices Based on Peak Spectrum Technology[J].Semiconductor Technology,2022,47(4):274-280.
Authors:Zhang Jiao  Zhang Yamin  Feng Shiwei
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号