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钝化边沿的制作及其对GalnP/GaAs SHBT 性能的影响
引用本文:杜鹏搏,蔡克理,蔡树军.钝化边沿的制作及其对GalnP/GaAs SHBT 性能的影响[J].半导体技术,2007,32(3).
作者姓名:杜鹏搏  蔡克理  蔡树军
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:利用光刻胶形成保护侧墙,用湿法腐蚀来形成发射极钝化边沿.这种方法工艺简单,不需要额外的绝缘介质作为掩膜,也不需要双层腐蚀终止层.研发出了带发射极钝化边沿的GalnP/GaAs单异质结双极型晶体管(SHBT),并对不同尺寸有无钝化边沿的器件特性进行对比,结果表明钝化边沿能有效改善小尺寸器件的直流特性,对器件的高频特性无明显影响.

关 键 词:侧墙  发射极钝化边沿  单异质结双极型晶体管  钝化边  制作  GaAs  性能  影响  GaInP  Performance  Effect  Fabrication  高频特性  直流特性  器件特性  小尺寸  改善  结果  异质结双极型晶体管  湿法腐蚀  掩膜  绝缘介质  工艺

Passivation Ledge Fabrication and Its Effect on Performance of GaInP/GaAs SHBT
DU Peng-bo,CAI Ke-li,CAI Shu-jun.Passivation Ledge Fabrication and Its Effect on Performance of GaInP/GaAs SHBT[J].Semiconductor Technology,2007,32(3).
Authors:DU Peng-bo  CAI Ke-li  CAI Shu-jun
Abstract:
Keywords:
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