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| 星载ASIC芯片单粒子效应检测及在轨翻转率预估 | |
| 引用本文： | 汪波,王佳,刘伟鑫,孔泽斌,刘相全,王昆黍,韦锡峰,周正.星载ASIC芯片单粒子效应检测及在轨翻转率预估[J].半导体技术,2019,44(9):728-734. |
| 作者姓名： | 汪波 王佳 刘伟鑫 孔泽斌 刘相全 王昆黍 韦锡峰 周正 |
| 作者单位： | 中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所,上海,201109;中国航天科技集团有限公司第八研究院第八○八研究所,上海 201109;中国航天科技集团有限公司第八研究院第五○九研究所,上海 201109;中国航天科技集团有限公司第八研究院第五○九研究所,上海,201109;中国电子科技集团有限公司第二十四研究所,重庆,400060 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 专用集成电路(ASIC)芯片 单粒子翻转 在轨翻转率 检错纠错(EDAC) 辐射加固 |
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