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| 光学薄膜微结构的透射电镜测试 | |
| 引用本文： | 颜清华.光学薄膜微结构的透射电镜测试[J].激光技术,1987,11(5):20-23. |
| 作者姓名： | 颜清华 |
| 作者单位： | 1.中国科学院成都分院分析测试中心 |
| 摘 要： | 本文论述了应用透射电子显微镜技术对光学薄膜的微结构进行测试,并详细叙述了透射电镜的样品制备技术。 |
| 收稿时间： | 1987-06-10 |
TEM test of microstructure of optical thin films |
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| Abstract: | Application of transmission electron microscope technique to microstructurc test of optical thin films and the preparatory technique of TEM specimen are described. |
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