首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生
引用本文:居水荣,郑明.0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生[J].微电子技术,2000,28(2):17-21.
作者姓名:居水荣  郑明
作者单位:中国华晶电子集团公司MOS总厂设计所!无锡,214061,中国华晶电子集团公司MOS总厂设计所!无锡,214061
摘    要:给出了在以VHDL为硬件描述语言的 0 9μmCMOS标准单元正向设计中 ,在存在用户定制单元及ROM宏单元情况下的总体仿真方法 ,讨论了测试矢量的产生及验证。

关 键 词:总体仿真  测试矢量  正向设计  ASIC  集成电路  MOS
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号