0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生 |
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引用本文: | 居水荣,郑明.0.9μmASIC正向设计中的总体仿真及测试矢量产生[J].微电子技术,2000,28(2):17-21. |
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作者姓名: | 居水荣 郑明 |
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作者单位: | 中国华晶电子集团公司MOS总厂设计所!无锡,214061,中国华晶电子集团公司MOS总厂设计所!无锡,214061 |
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摘 要: | 给出了在以VHDL为硬件描述语言的 0 9μmCMOS标准单元正向设计中 ,在存在用户定制单元及ROM宏单元情况下的总体仿真方法 ,讨论了测试矢量的产生及验证。
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关 键 词: | 总体仿真 测试矢量 正向设计 ASIC 集成电路 MOS |
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