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| A540测试系统内部基准的检定及校准 | |
| 引用本文： | 王庆,张芷苓.A540测试系统内部基准的检定及校准[J].微电子技术,1995,23(5):28-30,38. |
| 作者姓名： | 王庆 张芷苓 |
| 作者单位： | 中国华晶电子集团公司技术支援中心!无锡，214061(王庆)，中国华晶电子集团公司MOS一厂!无锡，214061(张芷苓) |
| 摘 要： | 一A540简介A540测试系统为AVLSI数模混合信号测试系统，具有先进的图形基础及很高的稳定性，测试精度及定时精度，具备同时产生及处理数字信号和模拟信号的能力。为了对AVLSI数模混合信号进行测试和充分体现AVLSI的测试特点，A540具有现代模拟和数字技术水平的测试配备和复杂的高速处理和控制能力，物个数字通道，每通道26／50MHZ时钟和数字速率，16个模拟通道，低频可达256kHZ，高源可达10MHZ。此外，具有DSP一基准AC电源。复盖DC－10MHZ的信号数字化系统。H、A540测试系统量值传递设想为了确保A54O混合信号测试系统测试的… |
| 关 键 词： | A540测试系统 内部基准 检定 校准 |
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