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加窗技术在微带EBG结构中的应用
引用本文:闫敦豹,高强,付云起,袁乃昌.加窗技术在微带EBG结构中的应用[J].微波学报,2004,20(4):60-63.
作者姓名:闫敦豹  高强  付云起  袁乃昌
作者单位:国防科技大学光子晶体研究中心,长沙 410073
基金项目:国家安全重大基础预研资助项目 (5 13 0 7)
摘    要:研究了加窗技术在微带电磁带隙(EBG,Electromagnetic Band-Gap)结构中的应用,仿真结果表明加窗技术的应用可以有效地改善通带的平坦度,减小插损,对本文所研究的问题,3GHz以下的通带插损可以减小到0.4dB以内。制作了相应的实际电路,实验结果与仿真结果基本相符。

关 键 词:微带  通带  插损  仿真结果  平坦度  电磁带隙  电路  制作
文章编号:1005-6122(2004)04-0060-04
修稿时间:2003年10月13

The Application of Windowing Technique to Microstrip EBG Structure
Yan Dunbao,Gao Qiang,Fu Yunqi,Yuan Naichang.The Application of Windowing Technique to Microstrip EBG Structure[J].Journal of Microwaves,2004,20(4):60-63.
Authors:Yan Dunbao  Gao Qiang  Fu Yunqi  Yuan Naichang
Abstract:In this paper, the application of windowing techniques to microstrip EBG structure is studied. The simulated results show that the smooth of pass band is improved effectively using the techniques, and the insertion loss is decreased too. For the example presented in this paper, insertion loss is less than 0.4dB for pass band below 3GHz. Several circuits are manufactured, and the measured results are basically accordant to the simulated results.
Keywords:Photonic crystals  Electromagnetic band  gap  Insetion loss  Windowing techniques
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