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全内反射照明光学元件损伤检测信噪比分析
引用本文:彭志涛,魏晓峰,元浩宇,傅学军,陈德怀,孙志红,刘华,徐隆波.全内反射照明光学元件损伤检测信噪比分析[J].红外与激光工程,2011,40(6):1111-1114.
作者姓名:彭志涛  魏晓峰  元浩宇  傅学军  陈德怀  孙志红  刘华  徐隆波
作者单位:中国工程物理研究院 激光聚变研究中心,四川绵阳,621900
摘    要:适合的光学元件照明对终端光学元件损伤检测成像至关重要.基于平板光学元件的全内反射原理,将阵列LED边缘照明光耦合进大口径光学元件,光学元件上疵点处的全内反射条件被破坏,光线从疵点出射,用相机对元件成像,散射光就会在相机CCD上形成疵点的图像,它是暗背景中的亮点,因此图像信噪比很高,解决了损伤检测过程中疵点到底归属于光学...

关 键 词:全内反射照明  损伤检测  暗场成像

Signal noise ratio of total internal reflection edge illumination for optics damage inspection
Peng Zhitao,Wei Xiaofeng,Yuan Haoyu,Fu Xuejun,Chen Dehuai,Sun Zhihong,Liu Hua,Xu Longbo.Signal noise ratio of total internal reflection edge illumination for optics damage inspection[J].Infrared and Laser Engineering,2011,40(6):1111-1114.
Authors:Peng Zhitao  Wei Xiaofeng  Yuan Haoyu  Fu Xuejun  Chen Dehuai  Sun Zhihong  Liu Hua  Xu Longbo
Abstract:
Keywords:
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