| SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究 |
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| 引用本文： | 郑晓云,王绍举.SRAM型FPGA单粒子翻转模拟系统研究[J].红外与激光工程,2014(Z1). |
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| 作者姓名： | 郑晓云 王绍举 |
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| 作者单位： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林 长春 130033; 小卫星技术国家地方联合工程研究中心，吉林 长春 130033 |
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| 摘 要： | SRAM型FPGA在空间辐照环境下,容易受到单粒子效应的影响,导致FPGA存储单元发生位翻转,翻转达到一定程度会导致功能错误。为了评估FPGA对单粒子效应的敏感程度和提高FPGA抗单粒子的可靠性,对实现故障注入的关键技术进行了研究,对现有技术进行分析,设计了单粒子翻转效应敏感位测试系统,利用SRAM型FPGA部分重配置特性,采用修改FPGA配置区数据位来模拟故障的方法,加速了系统的失效过程,实现对单粒子翻转敏感位的检测和统计,并通过实验进行验证,结果表明:设计合理可行,实现方式灵活,成本低,为SRAM型FPGA抗单粒子容错设计提供了有利支持。
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| 关 键 词： | 单粒子翻转 SRAM型FPGA 故障注入 |
SRAM-based FPGA SEU simulation system |
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| Zheng Xiaoyun,Wang Shaoju.SRAM-based FPGA SEU simulation system[J].Infrared and Laser Engineering,2014(Z1). |
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| Authors: | Zheng Xiaoyun Wang Shaoju |
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| Keywords: | SEU SRAM-based FPGA fault injection |
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