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消除CMOS读出电路噪声方法研究
引用本文:沈晓燕.消除CMOS读出电路噪声方法研究[J].红外与激光工程,2004,33(6):659-661.
作者姓名:沈晓燕
作者单位:南通大学,电子信息学院,江苏,南通,226007
基金项目:江苏省高校自然科学研究项目(03KJD510168)
摘    要:对红外焦平面阵列CMOS读出电路中几种常见的噪声及其抑制技术进行了分析和讨论,重点研究了消除读出电路噪声的新方法——双复位法。该方法克服了以往相关双取样的缺点,没有增加电路功耗和硅集成电路的复杂程度,只要电容参数选择合理,理论上能完全消除KTC噪声,而且对1/f噪声也起到抑制作用。

关 键 词:KTC噪声  读出电路  相关双取样  红外焦平面阵列
文章编号:1007-2276(2004)06-0659-03
收稿时间:2004/3/11
修稿时间:2004年3月11日

Methods of canceling noises in CMOS read-out integrated circuit
SHEN Xiao-yan.Methods of canceling noises in CMOS read-out integrated circuit[J].Infrared and Laser Engineering,2004,33(6):659-661.
Authors:SHEN Xiao-yan
Abstract:The noises and suppression technology in IRFPA CMOS read\|out integrated circuit are analyzed. A new method avoiding the shortage of correlated double sampling method is studied, which can cancel noises without adding power consumption and complexity of silicon technique. In principle, KTC noise can be completely cancelled by this method if the values of capacities are properly selected. Furthermore, the 1/f noise can also be suppressed.
Keywords:KTC noise  Read-out integrated circuit  Correlated double sampling  IRFPA
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