| 通用红外测试系统的精度分析 |
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| 引用本文： | 李颖文,潘德彬,刘爱东,刘建东,王群,罗艳. 通用红外测试系统的精度分析[J]. 红外与激光工程, 2006, 35(Z5) |
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| 作者姓名： | 李颖文 潘德彬 刘爱东 刘建东 王群 罗艳 |
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| 摘 要： | 采用美国PI、Santa Barbara红外和Lumitron的红外测试设备,进行系统集成,构建成了通用的红外测试系统.它既能完成1 024×1 024元以下任意像元数的中波红外和长波红外焦平面阵列性能参数的测试,又能完成中波红外和长波红外热像仪系统级性能参数的测试,具有很好的适用性及技术的先进性.中波红外热像仪的测试结果NETD=15.8 mK,与CEDIP的结果15.13 mK相差0.67 mK.测试精度为±1.49 mK.长波制冷红外焦平面阵列探测器的测试结果NETD为26.47 mK,与Sofradir的结果24.43 mK相差2.04 mK,测试精度为±1.63 mK.
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| 关 键 词： | 红外 焦平面 热像仪 测试 噪声等效温差 精度分析 |
Accuracy analysis of universal infrared test system |
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| LI Ying-wen,PAN De-bin,LIU Ai-dong,LIU Jian-dong,WANG Qun,LUO Yan. Accuracy analysis of universal infrared test system[J]. Infrared and Laser Engineering, 2006, 35(Z5) |
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| Authors: | LI Ying-wen PAN De-bin LIU Ai-dong LIU Jian-dong WANG Qun LUO Yan |
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