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生长温度对In0.82Ga0.18As表面形貌和结晶质量的影响
引用本文:张铁民,缪国庆,金亿鑫,于淑珍,蒋红,李志明,宋航.生长温度对In0.82Ga0.18As表面形貌和结晶质量的影响[J].红外与激光工程,2007,36(Z1).
作者姓名:张铁民  缪国庆  金亿鑫  于淑珍  蒋红  李志明  宋航
基金项目:国家自然科学基金重点项目 , 国家自然科学基金面上项目
摘    要:采用低压金属有机化学气相沉积(LP-MOCVD)技术,在InP衬底上外延生长In0.82Ga0.18As.研究生长温度对In0.82Ga0.18As表面形貌、结晶质量和Ⅲ族源铟镓比的影响.扫描电子显微镜观察样品的表面形貌.X射线衍射用于表征材料的组分和结晶质量.结果表明,生长温度强烈地影响In0.82Ga0.18As材料的表面形貌和结晶质量.样品的表面形貌随生长温度的增加由典型的2D生长模式过渡到3D生长模式.X射线衍射曲线半峰全宽为1224、1454、2221、2527 S,分别对应于生长温度为410、430、450、470℃四个样品.此外,Ⅲ族源铟镓比值也随生长温度的增加从0.42增大到4.62.

关 键 词:铟镓砷  金属有机化学气相沉积  生长温度

Effect of growth temperature on crystalline quality and surface morphology of In0.82Ga0.18As
ZHANG Tie-min,MIAO Guo-qing,JIN Yi-xin,YU Shu-zhen,JIANG Hong,LI Zhi-ming,SONG Hang.Effect of growth temperature on crystalline quality and surface morphology of In0.82Ga0.18As[J].Infrared and Laser Engineering,2007,36(Z1).
Authors:ZHANG Tie-min  MIAO Guo-qing  JIN Yi-xin  YU Shu-zhen  JIANG Hong  LI Zhi-ming  SONG Hang
Abstract:
Keywords:
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