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CCD芯片热电制冷系统的非稳态性能分析
引用本文:潘海俊,阮萍,李福,卜凡. CCD芯片热电制冷系统的非稳态性能分析[J]. 红外与激光工程, 2012, 0(11): 3021-3026
作者姓名:潘海俊  阮萍  李福  卜凡
作者单位:中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学
基金项目:嫦娥三号月基光学望远镜支撑项目
摘    要:随着电子设备不断向小型化、集成化发展,热电制冷技术作为一种有效的主动冷却方法被广泛用于重要部件的温度控制。为了获得最佳的制冷效果,文中针对散热受限条件下的CCD芯片热电制冷系统非稳态过程,建立了一个数值分析模型。分析结果表明:在散热受限时,热电制冷系统的传热过程长时间处于非稳态过程;在不超过最大制冷电流的条件下,增大制冷电流可以提高制冷效果,但是大的制冷电流可能出现温度回升的现象;虽然热端散热能力的提高可以改善制冷效果,但是存在一个极限值,这与热电制冷器(TEC)的优值系数有关;当系统载荷发生变化时,合理改变制冷电流和热端散热能力可以提高系统的温度稳定性,其中制冷电流对系统温度稳定性的影响更大。

关 键 词:热电制冷  CCD制冷  TEC  非稳态传热

Unsteady heat transfer process analysis of thermoelectric cooling system on CCD sensor
Pan Haijun,Ruan Ping,Li Fu,Bu Fan. Unsteady heat transfer process analysis of thermoelectric cooling system on CCD sensor[J]. Infrared and Laser Engineering, 2012, 0(11): 3021-3026
Authors:Pan Haijun  Ruan Ping  Li Fu  Bu Fan
Affiliation:1,2(1.Xi′an Institute of Optics and Precision Mechanics,Chinese Academy of Sciences,Xi′an 710119,China; 2.University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China)
Abstract:
Keywords:
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