| 热像仪测量物体表面辐射率及误差分析 |
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| 引用本文： | 杨立,寇蔚,刘慧开,初明忠.热像仪测量物体表面辐射率及误差分析[J].激光与红外,2002,32(1):43-45. |
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| 作者姓名： | 杨立 寇蔚 刘慧开 初明忠 |
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| 作者单位： | 海军工程大学三系热工教研室,湖北,武汉,430033 |
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| 摘 要： | 根据红外辐射理论，通过分析红外成像仪辐射测量的基本原理，得到了计算被测表面辐射率的计算公式；讨论了影响热像仪测量误差的各种因素，给出了估计表面辐射率误差的计算公式。最后，介绍了几种测量辐射率的有效方法。
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| 关 键 词： | 红外热成像仪 辐射测量 误差分析 物体表面测量 |
| 文章编号： | 1001-5078(2002)01-0043-03 |
| 修稿时间： | 2001年6月11日 |
Surface Emissivity Measurement and Error Analysis Using Infrared Thermography |
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| YANG Li,KOU Wei,LIU Hui kai,CHU Ming zhong.Surface Emissivity Measurement and Error Analysis Using Infrared Thermography[J].Laser & Infrared,2002,32(1):43-45. |
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| Authors: | YANG Li KOU Wei LIU Hui kai CHU Ming zhong |
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| Abstract: | Base on the theory of infrared radiation and the principles of temperature measurement using infrared thermography,the formulas calculating the apparent emissivity of target surface were presented.The error of emissivity measurement was discussed and appropriate formulas for error calculation were obtained.Some effective methods measuring the emissivity of target surface were introduced. |
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| Keywords: | infrared thermography emisivity measurement error analysis |
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