| 红外偏振成像系统的成像条件分析 |
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| 引用本文： | 周彦卿,张卫,顾静良,邹凯,余鸿铭.红外偏振成像系统的成像条件分析[J].激光与红外,2014,44(10):1110-1114. |
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| 作者姓名： | 周彦卿 张卫 顾静良 邹凯 余鸿铭 |
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| 作者单位： | 1. 中国工程物理研究院应用电子学研究所，四川 绵阳621900; 中国工程物理研究院研究生部，四川 绵阳621900
2. 中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川 绵阳,621900 |
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| 摘 要： | 红外偏振成像技术是未来目标搜索方法的研究热点,它对于入射角、目标表面粗糙度等条件比较敏感,为使红外偏振成像系统有效工作,有必要研究系统成像条件。研究从菲涅尔反射定理和基尔霍夫定律出发,分析了偏振产生原理;针对不同入射角、入射光强、观测波段、目标表面粗糙度、目标材质等观测因素对成像效果的影响,通过定性定量分析、数据仿真、对比实验得出结论。实验结果与之前的理论分析吻合,即当入射角越接近布儒斯特角时,反射光的线偏振程度越大,发现布儒斯特角并非红外偏振成像的最佳观测角;当光照强度越大,目标表面越光滑时,偏振度也越大。对于将偏振成像技术在目标搜索、跟瞄等领域的工程化应用有着重要的意义。
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| 关 键 词： | 红外偏振成像 观测条件 目标表面特性 入射角 |
Analysis on the imaging factors of infrared polarization imaging system |
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| ZHOU Yan-qing,ZHANG Wei,GU Jing-liang,ZOU Kai,YU Hong-ming.Analysis on the imaging factors of infrared polarization imaging system[J].Laser & Infrared,2014,44(10):1110-1114. |
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| Authors: | ZHOU Yan-qing ZHANG Wei GU Jing-liang ZOU Kai YU Hong-ming |
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| Affiliation: | Institute of Applied Electronics,China Academy of Engineering Physics,Mianyang 621900,China;Graduate Faculty,China Academy of Engineering Physics,Mianyang 621900,China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | infrared-polarization imaging imaging factors target’s surface property angle of incidence |
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