| TCR矫正对非制冷探测器微桥热导测试的影响 |
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| 引用本文： | 邱宇峰,金晶,翟厚明.TCR矫正对非制冷探测器微桥热导测试的影响[J].激光与红外,2014,44(6):629-632. |
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| 作者姓名： | 邱宇峰 金晶 翟厚明 |
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| 作者单位： | 上海大学材料科学与工程学院电子信息材料系，上海 200072；中国科学院上海技术物理研究所 红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083 |
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| 摘 要： | VO2薄膜的电阻温度系数TCR(Temperature Coefficient of Resistance,用α表示)随温度改变会发生显著变化。因此,以VO2薄膜为热敏材料的非制冷探测器微桥像元采用1/R—(-αI2)曲线来测量微桥热导时,如果使用固定TCR数值,必然会对测量结果带来偏差。本文采用TCR逐点矫正的方法测量了非制冷微桥热导,并分析了有效热导,实验中的最大热导矫正率达到20.08%。采用本方法可使非制冷探测器微桥的热导测试结果更为准确,也更具有实际应用价值。
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| 关 键 词： | 非制冷探测器 热导 有效热导 电阻温度系数 微桥 |
Effect of TCR correction on microbridge thermal conductance test for uncooled detectors |
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| QIU Yu-feng,JIN Jing,ZHAI Hou-ming.Effect of TCR correction on microbridge thermal conductance test for uncooled detectors[J].Laser & Infrared,2014,44(6):629-632. |
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| Authors: | QIU Yu-feng JIN Jing ZHAI Hou-ming |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | uncooled detector thermal conductance effective thermal conductance temperature coefficient of resistance microbridge |
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