| 连续半导体激光器LIV特性测试系统的设计 |
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| 引用本文： | 范贤光,孙和义,唐文彦,张春富,李慧鹏.连续半导体激光器LIV特性测试系统的设计[J].激光与红外,2007,37(2):166-169. |
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| 作者姓名： | 范贤光 孙和义 唐文彦 张春富 李慧鹏 |
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| 作者单位： | 哈尔滨工业大学自动化测试与控制系,黑龙江,哈尔滨,150001 |
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| 摘 要： | 针对通用的连续半导体激光器(LD)特性参数测试系统存在的问题,研制了一种新型的基于USB总线的连续半导体激光器LIV(light-current-voltage)特性测试系统.详细介绍了整个系统的硬件电路,包括半导体激光器的驱动单元、测试单元、基于FPGA的接口电路、单片机控制单元等,并对一DFB半导体激光器进行测试,给出了LIV曲线图.同时,对该系统的性能进行了分析.该系统已经应用于半导体激光器特性参数的自动测试,并取得了良好的效果.
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| 关 键 词： | 半导体激光器 测试 FPGA USB总线 连续 半导体激光器 特性参数 测试系统 设计 Testing System Characteristic Laser Diode Continuous 效果 自动 应用 分析 性能 曲线图 控制单元 单片机 接口电路 FPGA 测试单元 |
| 文章编号： | 1001-5078（2007）02-0166-04 |
| 修稿时间： | 2006-06-092006-07-14 |
Design of Continuous Laser Diode LIV Characteristic Testing System |
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| FAN Xian-guang; SUN He-yi; TANG Wen-yan; ZHANG Chun-fu; LI Hui-peng.Design of Continuous Laser Diode LIV Characteristic Testing System[J].Laser & Infrared,2007,37(2):166-169. |
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| Authors: | FAN Xian-guang; SUN He-yi; TANG Wen-yan; ZHANG Chun-fu; LI Hui-peng |
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| Affiliation: | Dept.of Automatic Measurement and Control; Harbin Institute of Technology; Harbin 150001; China |
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| Abstract: | To solve the problem of the general laser diode characteristic testing system,a new continuous laser diode light-current-voltage characteristic testing system based on USB bus is developed.The design of the whole hardware circuit,including the driver element,the measurement unit,the interface circuit based on FPGA,the SCM control unit,and so on,is introduced.A DFB laser diode is tested using the system,and the LIV curves are given.Meanwhile,the performance analyses are provided.The system has been applied t... |
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| Keywords: | laser diode testing FPGA USB |
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