| 多元红外探测器元内均匀性扫描测试系统 |
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| 引用本文： | 魏振忠,张广军,孙军华,周富强,陈洪许,孙维国.多元红外探测器元内均匀性扫描测试系统[J].激光与红外,2008,38(6):562-565. |
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| 作者姓名： | 魏振忠 张广军 孙军华 周富强 陈洪许 孙维国 |
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| 作者单位： | [1]北京航空航天大学精密光机电一体化技术教育部重点实验室,北京100083 [2]中国空空导弹研究院,河南洛阳471009 |
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| 摘 要： | 针对多元红外探测器元内均匀性参数测试需求,研究开发了一套红外小光点扫描测试系统,主要由红外点光源汇聚成像光学系统、视觉辅助对准系统和精密六自由度扫描工作台以及数据采集与处理系统构成.该系统获得了高质量微米尺度的红外小光点,可精确实现小光点与探测器的感光面的对准,并自动完成多元红外探测器各个元元内均匀性的测试.针对某型号探测器的测试实验表明,该系统具有高的测试效率,较好的测量少度和稳定性.
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| 关 键 词： | 红外探测器 小光点 均匀性 对准 |
| 文章编号： | 1001-5078(2008)06-0562-04 |
| 修稿时间： | 2007年12月2日 |
Scan-testing System for Node-Inner Uniformity of Multi-node Infrared Detector |
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| WEI Zhen-zhong,ZHANG Guang-jun,SUN Jun-Hu,ZHOU Fu-qiang,CHEN Hong-xu,SUN Wei-guo.Scan-testing System for Node-Inner Uniformity of Multi-node Infrared Detector[J].Laser & Infrared,2008,38(6):562-565. |
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| Authors: | WEI Zhen-zhong ZHANG Guang-jun SUN Jun-Hu ZHOU Fu-qiang CHEN Hong-xu SUN Wei-guo |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | infrared detector micro-light-spot uniformity aiming |
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