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有源器件端口反射系数测量方法分析
引用本文:张翠翠,王 益,王建忠.有源器件端口反射系数测量方法分析[J].太赫兹科学与电子信息学报,2015,13(2):267-271.
作者姓名:张翠翠  王 益  王建忠
作者单位:Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics,Mianyang Sichuan 621999,China;Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics,Mianyang Sichuan 621999,China;Metrology and Testing Center,China Academy of Engineering Physics,Mianyang Sichuan 621999,China
基金项目:科工局技术基础基金资助项目
摘    要:有源器件的端口反射系数是器件的主要参数,端口反射系数的大小直接影响信号的输出功率。为实现有源器件在“射频开”状态下端口反射系数的测量,开展了阻抗调谐器法和网络分析仪频率偏移法的源端口反射系数测量方法研究,并针对信号源和放大器开展了相应的实验。测量结果表明,10 dBm输出时2种方法测得反射系数模值的差别小于0.06,相位变化差别优于10°,为有源器件端口反射系数的测量提供了可行的方法。

关 键 词:有源器件  反射系数测量  阻抗调配器  网络分析仪
收稿时间:2014/3/19 0:00:00
修稿时间:2014/4/24 0:00:00

Analysis on the reflection coefficient measurement of the active device
ZHANG Cuicui,WANG Yi and WANG Jianzhong.Analysis on the reflection coefficient measurement of the active device[J].Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology,2015,13(2):267-271.
Authors:ZHANG Cuicui  WANG Yi and WANG Jianzhong
Abstract:
Keywords:
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