| 通道幅相误差对数字阵列天线性能影响及校准 |
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| 引用本文： | 唐晓雷,张令坤,陈 飞.通道幅相误差对数字阵列天线性能影响及校准[J].太赫兹科学与电子信息学报,2016,14(4):562-566. |
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| 作者姓名： | 唐晓雷 张令坤 陈 飞 |
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| 作者单位： | Nanjing Research Institute of Electronics Technology，Nanjing Jiangsu 210039，China,Nanjing Research Institute of Electronics Technology，Nanjing Jiangsu 210039，China and Nanjing Research Institute of Electronics Technology，Nanjing Jiangsu 210039，China |
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| 摘 要： | 为实现低副瓣数字阵列天线性能,需要对阵面通道幅相误差进行校准。针对此问题,定性分析了通道幅相误差、阵面通道数与数字阵列天线主要性能(副瓣电平、波束指向、增益)的相对关系,分析结果表明:通道间幅相误差越大,副瓣电平、波束指向、增益越差;通道数越多,副瓣电平、波束指向受通道误差影响越小,而增益受通道幅相误差的影响与阵面通道数无关。结合数字阵雷达实际使用中阵面通道幅相误差修调问题,重点研究了通道误差测量方法。给出了利用内监测法和中场测量法进行通道误差测量的原理、实现方法及适用条件,该2种通道误差测量方法可以作为互补手段使用。最后,给出了一种基于多次测量取平均值的数字阵列幅相误差校准方法,仿真结果表明:校准前后,通道幅相误差分别由2 d B和20°变为0.4 d B和2°,满足指标要求。
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| 关 键 词： | 数字阵列天线 幅相误差 内监测法 中场测量法 误差校准 |
| 收稿时间： | 2015/6/29 0:00:00 |
| 修稿时间： | 8/6/2015 12:00:00 AM |
Effect of channel amplitude/phase errors on digital array performance and calibration |
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| TANG Xiaolei,ZHANG Lingkun and CHEN Fei.Effect of channel amplitude/phase errors on digital array performance and calibration[J].Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology,2016,14(4):562-566. |
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| Authors: | TANG Xiaolei ZHANG Lingkun and CHEN Fei |
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| Affiliation: | TANG Xiaolei;ZHANG Lingkun;CHEN Fei;Nanjing Research Institute of Electronics Technology; |
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