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红外焦平面探测器互连中的In缩球工艺
引用本文:沈天铸.红外焦平面探测器互连中的In缩球工艺[J].红外技术,2007,29(2):96-98.
作者姓名:沈天铸
作者单位:昆明物理研究所,云南,昆明,650223
摘    要:铟缩球工艺对红外焦平面探测器的互连很有帮助.依据所做的实验叙述了铟缩球工艺的过程,论述了铟缩球工艺能提高铟柱高度,减小高度差,及减低焊接压力等优点.

关 键 词:铟凸点  焦平面  互连  红外  焦平面探测器  工艺  Detectors  Array  Focal  Plane  Infrared  Flip  Chip  Reflow  Bump  焊接压力  高度差  铟柱  艺能  过程  叙述  实验
文章编号:1001-8891(2007)02-0096-03
修稿时间:2006-03-24

Indium Bump Reflow in Flip Chip Inter-connection of Infrared Focal Plane Array Detectors
SHEN Tian-zhu.Indium Bump Reflow in Flip Chip Inter-connection of Infrared Focal Plane Array Detectors[J].Infrared Technology,2007,29(2):96-98.
Authors:SHEN Tian-zhu
Affiliation:Kunming Institute of Physics, Kunming Yunnan 650223
Abstract:Indium Bump Reflow is a key technonogy flip chip for Inter-connection.The problems in indium bump reflow of flip chip inter-connection of Focal Plane Arrays are discussed.An optimized procedure for the indium bump reflow is shown.
Keywords:indium bump  FPA  inter-connection
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