| 碲镉汞线列光导器件的失效模式及原因分析 |
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| 引用本文： | 乔辉,王妮丽,兰添翼,赵水平,田启智,陆液,王仍,霍勤,施帆,汤亦聃,储开慧,贾嘉,周青,孙晓宇,姜佩璐,罗毅,陈心恬,李向阳.碲镉汞线列光导器件的失效模式及原因分析[J].红外与毫米波学报,2022,41(6):1009-1021. |
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| 作者姓名： | 乔辉 王妮丽 兰添翼 赵水平 田启智 陆液 王仍 霍勤 施帆 汤亦聃 储开慧 贾嘉 周青 孙晓宇 姜佩璐 罗毅 陈心恬 李向阳 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所 中科院红外成像材料与器件重点实验室，上海 200083 |
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| 基金项目： | 上海市青年科技英才扬帆计划（19YF1454800） |
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| 摘 要： | 针对不同项目研制过程中碲镉汞线列光导器件在筛选测试和应用中出现的失效模式进行了归纳和总结，并综合碲镉汞材料参数、器件结构尺寸、器件物理、器件制备工艺和器件测试等几个方面因素对器件失效的可能原因进行了分析，首次提出碲镉汞线列光导器件的优值因子作为失效判据，为进一步理解碲镉汞线列光导器件的物理机理以及更好优化器件的筛选过程提供了参考，为碲镉汞线列光导器件应用中出现的失效问题提供了分析和解决的方向。
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| 关 键 词： | 碲镉汞 光导器件 失效分析 |
| 收稿时间： | 2022/5/30 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2022/11/16 0:00:00 |
Failure modes and analysis for HgCdTe linear photoconductive detectors |
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| QIAO Hui,WANG Ni-Li,LAN Tian-Yi,ZHAO Shui-Ping,TIAN Qi-Zhi,LU Ye,WANG Reng,HUO Qin,SHI Fan,TANG Yi-Dan,CHU Kai-Hui,JIA Ji,ZHOU Qing,SUN Xiao-Yu,JIANG Pei-Lu,LUO Yi,CHENG Xin-Yi and LI Xiang-Yang.Failure modes and analysis for HgCdTe linear photoconductive detectors[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,2022,41(6):1009-1021. |
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| Authors: | QIAO Hui WANG Ni-Li LAN Tian-Yi ZHAO Shui-Ping TIAN Qi-Zhi LU Ye WANG Reng HUO Qin SHI Fan TANG Yi-Dan CHU Kai-Hui JIA Ji ZHOU Qing SUN Xiao-Yu JIANG Pei-Lu LUO Yi CHENG Xin-Yi and LI Xiang-Yang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | HgCdTe photoconductive detector photoconductor failure analysis |
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